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星弧涂層厚度測量儀Starspherics-02是一款可用于各種薄膜和涂層厚度的測量儀器,所測量的涂層不受成份、硬度等各種因素的限制。它的操作簡單,維護成本較其它類型的測厚儀更低。
    Starspherics-02膜厚測量原理是通過磨球在膜層上磨制成球面并測量球面的半徑從而計算出膜層的厚度。測厚儀由球磨機構、高倍顯微鏡、微電腦及測試軟件組成。

功能和技術特性 :
  測量厚度:>100nm 
  適用涂層:各種單一和復合涂層,如DLC、TiN等
   硬涂層、TiN和SiO2陶瓷或電鍍涂層
   中文測量軟件界面
   儀器外形尺寸: 450X400X500mm
   其他功能: 涂層耐磨性、結構和表面形貌

測厚儀主要部件:
  球磨機構
  高倍測量顯微鏡(350倍)
  微電腦及中文界面的測量軟件
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